千葉工業大学　プロジェクト研究年報　2015年版

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温測定が可能である．表面電位顕微鏡（KPFM）は環境型AFMにロックインアンプとバイアスフィードバック回路などを組み合わすことによって構築している．図1に用いた環境型AFM装置の写真を示す． 図1 環境型AFM装置の写真 3. 結果と考察 TlInS2 の評価にはAFMとKPFMを用いた．C相に相転移する低温にて仕事関数を測定することによりナノドメインの観測を試みた．TlInS2結晶では室温ではN相，113KではC相と考 図2 室温（294K）におけるTlInS2結晶表面のAFM像およびKPFM像 図3 113KにおけるTlInS2結晶表面のAFM像およびKPFM像 えられる．現段階では仕事関数測定によってナノ構造領域の自発分極によるナノドメインの観測に至っていない．また低温での数ナノオーダーの微粒子は真空度が10-2 Pa程度での測定であったため，装置内の水蒸気の凍結粒子であると考えている．現在，真空装置内の高真空度化を図っており，5×10-5 Pa程度まで向上している．今後，さらに高真空化を図りTlInS2の低温でのナノドメインを観測する． 4．まとめ AFM及びKPFMによりTlInS2の低温での相転移後のC相におこるナノドメインの観測を試みた．現在，真空装置の真空度に問題がありナノドメインの観測に至っていない．今後さらに装置の高真空化を図りTlInS2のナノドメインを観測する． 参考文献 1) N. Mamedov, K. Wakita, A. Ashida, T. Matsui, K. Morii, Thin Solid Films, 499, 275-278, (2006). 2) H. Uchiki et al., J. Luminescence 87-89 (2000) 664. 3) N. T. Mamedov and A. M. Panich, Phys. Stat. Sol., A 117 (1990) K15. 4) K. Okazaki, K. Tanaka, J. Matsuno, A. Fujimori, L.F. Mattheiss, S. Iida, E. Kerimova, and N. Mamedov, Phys. Rev., B 64 (2001) 045210. 5) V. A. Aliev, M. A. Aldzhanov, and S. N. Aliev, JETP Lett., 45 (1987) 534. 6) S. Tanisaki, J. Phys. Soc. Jpn. 16 (1961) 579. 7) 中村輝太郎編著 「強誘電体と構造相転移｣ 裳華房. 8) N. Mamedov et al.,Thin Solid Films, 517, 1434-1438 (2008). 9) K. Mimura et al., J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 156-158 379-382 (2007). 10) Y. Araki, K. Wakita, Y. G. Shim, K. Mimura, N. Mamedov, Phys. Status Solidi C, 10, (7–8) 1136–1138 (2013). 11) Y. Cho et al., Rev. Sci. Instrum., 67, 6 2297-2303 (1996). 12) Example, The 13th International Micromachine / Nanotech Symposium, Tokyo, June 19 (2007). (b) KPFM像 (a) AFM像 401 520[mV] [nm] 6.61 0 (b) KPFM像 (b) AFM像 401 972[mV] [nm] 48.6 0 962015　千葉工業大学附属研究所　プロジェクト研究年報　　　　　　　　　　Project Report of Research Institute of C.I.T 2015　　　　

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